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  • 이산 푸리에 변환(Discrete Fourier Transform, DFT)은 디지털 보호 계전기에서 기본 주파수 성분의 페이저를 추정하기 위해 가장 일반적으로 사용되는 방법이지만 신호에 지수 감쇄하는 직류 옵셋 성분이 존재하는 경우 추정된 페이저에 지수 감쇄하는 직류 옵셋 성분에 의한 오차가 포함되게 된다. 임피던스 기반의 고장점 추정 알고리즘에서는 DFT를 이용하여 추정된 페이저 신호를 이용하게 될 경우 고장점 추정에 오차를 유발할 수 있다. 본 논문에서는 기본 주파수 성분의 페이저를 이용하는 고장점 추정 알고리즘에서 지수 감쇄하는 DC 옵셋 성분에 의한 오차를 제거하기 위해서 AR 모델을 이용한 DC 옵셋 제거 알고리즘을 제안한다. 제안된 방법을 검증하기 위해 EMTP 모의 결과를 이용하여 기존의 DFT와 제안된 알고리즘의 성능을 검증하였다 (xsd:string)
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  • fault location algorithm using an AR model to remove DC-offset (xsd:string)
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  • born digital (xsd:string)
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  • 일반이용자 (xsd:string)
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  • 참고문헌: p. 578 (xsd:string)
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  • 강상희 (xsd:string)
  • 김규남 (xsd:string)
  • 김우중 (xsd:string)
  • 김종석 (xsd:string)
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  • 2021-01-26T19:13:42 (xsd:dateTime)
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  • 3 p (xsd:string)
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  • application/pdf (xsd:string)
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  • 학술논문 (xsd:string)
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  • 국립중앙도서관 (xsd:string)
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  • http://www.kiee.or.kr (xsd:string)
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  • AR 모델로 DC 옵셋 영향을 제거한 고장점 추정 알고리즘 (xsd:string)
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  • 전자자료(Application) (xsd:string)
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  • p. 576-578 (xsd:string)
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  • 한국 (xsd:string)
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  • 2017년 (xsd:string)
  • 제48회 (xsd:string)
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  • 국립중앙도서관 공개 (xsd:string)
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  • AR 모델로 DC 옵셋 영향을 제거한 고장점 추정 알고리즘 (xsd:string)
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  • KIEE summer conference (xsd:string)
  • 대한전기학회 하계학술대회 (xsd:string)
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